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产品综述

6433P光波元件分析仪是面向高速电光器件、光电器件及光光器件调制特性测试的仪器,频率范围覆盖10MHz~110GHz,集成电电测试、电光测试、光电测试及光光测试4种测试模式,具有对数/线性幅度、相位、群时延、Smith圆图、极坐标等多种显示格式,能够精确测量光电网络的幅/相频特性,主要应用于高速电光器件(电光强度调制器、直接调制激光器、光发射组件)、光电器件(探测器、光发射组件、探测器芯片)及光光器件(光衰减器、EDFA)的带宽、幅/相频、群时延等频响参数的测试。


功能特点

  • 主要特点

    10MHz~110GHz 宽频带同轴覆盖;

    最小频率分辨率1Hz;

    测试功能丰富,具备传输、反射等多种参数测试功能;

    一体化多功能测试界面;

    向导式校准及一键式快速扫频测试;

    多窗口显示及快速分析;

    自动夹具移除,快速获取探针数据;具有USB、LAN等接口和SCPI程控指令集,可实现自动测试


  • 10MHz~110GHz 宽频带同轴覆盖

    6433P光波元件分析仪调制频率最高可达110GHz,最小频率分辨率为1Hz,可实现高速宽频带光器件及光芯片调制特性测试。


  • 一体化多功能测试向导界面

    6433P光波元件分析仪具备电电、电光、光电、光光四种测量模式,功能模式之间可任意切换,可满足光器件的S参数、阻抗、时域等参数测量需求。一体化多功能界面方便用户快速完成测量模式、光波参数、光路去嵌入参数、射频去嵌入等参数的设置。

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  • 向导式校准及一键式测试

    6433P光波元件分析仪进行微波域的电电校准及光波域的光路校准时,采用向导式校准,方便用户对仪器进行快速校准,获得被测件准确的测试结果。同时采用一体化集成设计方案,利用核心算法,实现电光/光电/光光器件一键式宽带快速扫频测试。


  • 多窗口快速显示及分析

    6433P光波元件分析仪最多支持64个测量通道,32个测量窗口,每个窗口最多可同时显示16条测试轨迹,可实现结果的多窗口、多格式显示。

    高分辨率多点触控电容屏可快速实现各种输入和选择操作,快捷高效,便于用户快速分析数据,为用户提供全新的光波元件分析仪操作体验。

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  • 自动夹具移除,快速获取探针数据

    6433P光波元件分析仪利用自动夹具移除功能可快速解决光芯片S参数测试难题。测试时,将高频探针等效为夹具,通过自动夹具移除功能测量高频探针的时域参数,利用信号流图提取频域参数,形成s2p文件,进而通过射频去嵌入,实现光芯片的高精度S参数测试。

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型号

调制频率范围

工作波长

光功率测试范围

动态范围

对比

产品配置

  • 第一步:

    主机型号

    * 请先配置主机型号

  • 第二步:

    硬件选件

    * 请先配置硬件选件

  • 第三步:

    软件选件

    * 请先配置软件选件